Jun 17 – 21, 2024
INFN Sezione di Roma
Europe/Rome timezone

Capacitive techniques for the defect characterization of semiconductor devices.

Jun 19, 2024, 9:30 AM
1h
INFN Sezione di Roma

INFN Sezione di Roma

Dipartimento di Fisica

Speaker

Luigi Di Benedetto (University of Salerno)

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