VI Scuola Nazionale "Rivelatori ed Elettronica per Fisica delle Alte Energie, Astrofisica, Applicazioni Spaziali e Fisica Medica"

A method for measuring the effect of total ionising dose on temperature coefficients of semiconductor devices

26 mar 2015, 10:30

20m

Aula Villi (Laboratori Nazionali di Legnaro dell'INFN)

RADFAC Day

Relatore

Sig. Jiri Hofman (Cobham RAD Solutions)

Materiali di presentazione

Slides

RADFAC_Hofman.pdf