Speaker
Robert Stephen White
(INFN - Torino)
Description
The EXFLU1 batch of LGAD sensors on substrates of thickness between 15 and 45 $\mathrm{\mu}$m were exposed to various radiation grades between 1 $\times$ 10$^{-14}$ and 5 $\times$ 10$^{-15}$ n$_{\mathrm{eq}}$cm$^{-2}$ using the neutron reactor at JSI.
The sensor designs themselves, manufactured at FBK, are optimised to preserve characteristics at high fluences.
The latest studies of the effects of radiation have been performed, with the impact on thin sensors of varying design considered for their characterisation pre- and post-irradiation, and are presented.
| Role of Submitter | I am the presenter |
|---|
Primary authors
Alessandro Fondacci
(IOM-CNR / INFN Perugia)
Arianna Morozzi
(INFN - Perugia)
Cecilia Hanna
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Daniele Passeri
(University and INFN Perugia)
Francesco Moscatelli
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Giacomo Borghi
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Giovanni Paternoster
(Fondazione Bruno Kessler)
Leonardo Lanteri
(INFN - Torino)
Luca Menzio
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Marco Costa
(INFN - Torino)
Marco Ferrero
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Matteo Centis Vignali
(Fondazione Bruno Kessler)
Maurizio Boscardin
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Nadia Pastrone
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Nicolo' Cartiglia
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Robert Stephen White
(INFN - Torino)
Roberta Arcidiacono
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Roberto Mulargia
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Simona Giordanengo
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Tommaso Croci
(Istituto Nazionale di Fisica Nucleare)
Valentina Sola
(INFN Torino)
