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Description
Le Triple Gas Electron Multipliers (Triple-GEM) sono dei detector a gas impiegati nell’esperimento Compact Muon Solenoid (CMS) al CERN, per la ricostruzione e la misura dei muoni. Durante l’utilizzo, le GEM sono soggette a scariche elettriche causate, per esempio, della presenza di particelle di polvere nei pressi delle regioni di amplificazione. Queste scariche possono portare a dei “corti”, ovvero cortocircuiti tra gli elettrodi del detector. Questo contributo ha lo scopo di studiare l’impatto di questi “corti” sulle performance del detector, in particolare sulla sua efficienza. Per fare ciò, la presenza di uno o più “corti” su differenti fogli GEM è simulata abbassando la tensione applicata ai fogli coinvolti. L’obiettivo finale è determinare se e come sia possibile compensare la perdita di guadagno causata da questi “corti”. Verranno presentate le metodologie utilizzate per implementare lo studio e i risultati preliminari ottenuti.