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106 Congresso Nazionale SIF 2020

14–18 set 2020
Milano
Europe/Rome fuso orario

Variable angle spectroscopic ellipsometry characterization of turbostratic CVD-grown bilayer and trilayer graphene.

14 set 2020, 00:00
10m
Milano

Milano

Relatore

G. Politano

Materiali di presentazione

politanosif.mp4
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