26–29 set 2016
INFN-Laboratori Nazionali di Frascati
Europe/Rome fuso orario

Microwave Microscopy for Nano-Scale Characterization of Semiconductors and Dielectric Materials

29 set 2016, 15:30
30m
Aula Conversi (INFN-Laboratori Nazionali di Frascati)

Aula Conversi

INFN-Laboratori Nazionali di Frascati

Relatore

Romolo Marcelli (CNR-IMM)

Materiali di presentazione

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