A method for measuring the effect of total ionising dose on temperature coefficients of semiconductor devices

26 Mar 2015, 10:30
20m
Aula Villi (Laboratori Nazionali di Legnaro dell'INFN)

Aula Villi

Laboratori Nazionali di Legnaro dell'INFN

Speaker

Mr Jiri Hofman (Cobham RAD Solutions)

Presentation materials